新技術可透視電腦芯片
摘要：圖片來源：Stantchev et al研究人員提出了一種透視硅片的方法，從而提供了一種探查電腦芯片以尋找微小制造缺陷的強大新工具。為證實該方法的有效性，研究團隊將輻射模式投射
圖片來源：Stantchev et al
研究人員提出了一種透視硅片的方法，從而提供了一種探查電腦芯片以尋找微小制造缺陷的強大新工具。
為證實該方法的有效性，研究團隊將輻射模式投射到115微米厚的硅片上。這會臨時性地使電子在這種通常作為半導體的材料內部流動。當擁有導電性時，硅對于太赫茲輻射來說是透明的。太赫茲指的是每秒上萬億個周期的輻射。此類輻射介于微波和紅外輻射之間，擁有150納米～1.5毫米的波長。
隨后，研究人員測量了通過硅片反彈回來的輻射，以識別出現在硅片背面的物體或特征（圖片顯示的是一個2毫米×2毫米的部分電路）。利用此項技術，科學家能發現直徑小至8微米（或者說，約是人類最細頭發直徑的一半）的電路缺陷。他們在日前出版的《科學進展》雜志網絡版上報告了這一成果。
從短期來看，此項技術最有可能的用途或許是在生產電腦芯片的工廠中用于質量控制。不過，研究人員表示，從長遠來看，該技術或許可被用于仔細檢查生物組織的薄切片以發現疾病跡象。
太赫茲成像不會在探測較厚的組織切片或對身體部位進行成像方面派上用場。比如，一個原因在于所有活體組織的主要成分——水能強烈吸收這些波長的輻射，并因此阻礙了此項技術在透視這些物體方面的能力。（徐徐）
責任編輯：fl
(原標題：中國科學報)
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